認識場效應管MOSFET

一、初識MOSFET

從初學者的角度來說,我們在學習一個新的知識點的時候,經常會藉助已知的知識點,並與之類比。藉助已經熟悉的知識點,並對比著學習掌握新的知識點是一種高效、快捷並有效的學習方法。

可以拿來和MOSFET(場效應管)進行類比的管子,我們自然會想到三極體,它們有諸多類似之處。

(一)、三極體分NPN和PNP,MOSFET也分N-MOS和P-MOS。

為了方便記憶圖標,還可以這樣去理解代表類型的箭頭方向。NPN三極體的箭頭是朝外的,而N-MOS的箭頭是朝內的;與之對應,PNP三極體的箭頭是朝內的,而P-MOS的箭頭是朝外的。

圖1.1,三極體和MOSFET的圖標對比

(二)、三極體與MOSFET的導通條件對比

圖1.2,三極體和MOSFET的導通條件的對比

(三)、三極體和MOSFET的導通原理對比

三極體的導通深度決定於基極電流(Ibe)的大小,集電極-發射極電流(Ic)是Ibe放大之後的結果(放大倍數Beta,Ic=Beta*Ibe);MOSFET的導通深度決定於柵源極之間的電壓大小(Vgs),表現為Vgs越大,DS之間的導通電阻Rds(on)越小。所以,有一個簡單的說法:「三極體是電流型器件,MOSFET是電壓型器件」。

「三極體是電流型器件,MOSFET是電壓型器件」的意思是設計三極體電路時,需要關注Ibe的大小,不但是Vbe電壓達到閾值就可以了。不同大小的Ibe會使三極體分別處於截止、放大及飽和區;MOSFET是電壓型器件,意思是MOSFET的控制只關注Vgs電壓,超過導通閾值,MOSFET就由截止進入導通了,接著Vgs電壓越大,導通電阻Rds(on)越小,也即導通越充分。

所以,大家在設計電路時,特別是開關電路時,更加青睞於使用MOSFET而不是三極體,因為電壓型的器件更方便控制。當然,一般來說MOSFET的成本會高於三極體,所以實際設計電路需要根據實際情況做出妥協。

二、真實的MOSFET

以上對三極體和MOSFET的對比一般是MOSFET入門時必須掌握的知識,類比是為了增強進入學習的信心,但是如果止步於此,甚至滿足於此,則是十分可惜的。因為僅憑這幾點初識,實際上連MOSFET的門都還沒摸到,如果用此三把斧去設計實際電路,很有可能會被打擊得「鼻青臉腫」,輕者設計的電路不工作,重則MOSFET「炸管」。

(一)、MOSFET在導通過程是需要驅動電流的,而且所需的驅動電流很大。

圖1.3是典型的三極體開關電路,經過粗略計算得到Ibe=(3.3-Vbe)/R1-Vbe/R2~=57uA。

所以,三極體電路的基極驅動電流是很微弱的(微安這個數量級)。普通三極體的放大倍數至少也有50左右,所以,理論上Ic=50*0.057=2.85mA,那麼R3的壓降Vr3=Ic*R3=2.85*10=28.5V>>5V,所以圖1.3的三極體已經處於飽和狀態。

圖1.3,典型的三極體開關電路

如果維持R3=10K不變,使得三極體處於放大狀態,則極限的Ic=5/R3=0.5mA,反推至基極Ibe=Ic/Beta=0.5/50=10uA。所以,為了使得三極體工作在放大狀態,那麼Ibe必須小於10uA,因為設計及調試三極體放大電路使得大多數人望而卻步。還好現在使用集成電路的場合比較多,應用三極體也多使其工作於飽和區(作開關使用)。

如果,將圖1.3的三極體直接替換成MOSFET,如圖1.4,那麼情況會如何呢?實際上,可以很負責的告訴你這個電路無法工作。

圖1.4,在典型的三極體開關電路(圖1.3)中替換三極體為MOSFET

由於MOSFET的導通不需要GS的電流來維持,只需要GS的電壓來維持,所以VGS=3.3*R2/(R1+R2)=1.1V。這是和三極體電路的區別之一,三極體在導通之後,仍然需要基極電流Ibe的維繫,然後Vbe在導通之後會被鉗位(~0.7V);MOSFET在導通之後無需電流的維繫,所以VGS的電壓可以直接使用電阻的分壓比進行計算。

假設,此MOSFET的導通閾值電壓Vgs_th<<1.1V,那麼為什麼說此電路無法工作呢?原因在於認知的誤區之一「MOSFET是電壓驅動型器件,只需要VGS電壓到位就可以導通」。實際上,MOSFET在導通瞬間需要很大的驅動電流,大到安培這個數量級(1~2A是正常的)。所以,R1=20K限制了驅動電流,因此這個電路是沒法工作的。

改進的方法很簡單,使得R1=0~10Ohm,可選擇R1=0R或1R,稍微給R1配點阻值(比如1R)是為了減小導通過程中產生的振鈴;R1的數值太大會導致開關過程過程甚至無法導通。因為,MOSFET的導通深度(Rdson)會隨著VGS電壓的增加而加深(Rdson變小),所以一般在安全範圍內儘可能使用較高的VGS電壓來驅動MOSFET。

圖1.5,改進後的MOSFET開關電路

(二)、不可忽視的MOSFET極間參數

為什麼MOSFET在導通過程中會需要安培級別的驅動電流呢?原因是MOSFET的極間有不可忽視的寄生參數(此處只討論寄生電容)。

圖1.6,實際的MOSFET模型

如圖1.6, MOSFET的極間電容模型:

? Input capacitance: Ciss = Cgd + Cgs

? Output capacitance: Coss = Cgd + Cds

? Reverse transfer capacitance: Crss = Cgd

在MOSFET導通之前,首先需要打點這些寄生電容(給輸入電容Ciss(Cgd+Cgs)充電,交流模型里D和S「對地」),如圖1.7。VGS的驅動電壓來臨瞬間(上升沿),Ciss(Cgs+Cgd)相當於對地短路,所以峰值的Igs=Vgs/(Rg+r),r為驅動電路的內阻,所以GS的瞬態峰值電流達到安培級別不足為奇。

圖1.7,MOSFET導通過程中的預充電模型

所以,極間寄生電容是MOSFET的重要參數之一,這也是跳出「三極體思維」的起點。關於MOSFET極間寄生參數的影響,後文還會被不斷地提及。

(三)、MOSFET是電壓敏感型的器件

MOSFET對電壓十分敏感,一旦過壓就會損壞,早期的MOSFET對靜電(ESD)十分敏感,而三極體相對「耐操「些,這算是電壓型器件的弱點吧。

當然,現在的MOSFET已經沒有這麼」脆弱「了,首先不用特別擔心DS極的問題,因為一般都會集成一顆體二極體(Body Diode),如圖1.8。

圖1.8,集成了體二極體的MOSFET

集成的體二極體的主要作用是「續流」。比如,在BUCK開關電源中,上管關閉但是下管還未打開的這一小段「死區」時間內進行續流,避免MOSFET受到電壓的衝擊而損壞。

圖1.9,MOSFET的體二極體的續流作用

我們在選擇MOSFET時,一般會留足足夠的電氣參數的裕量,但是由於寄生參數(此處主要指寄生電感)的影響,電壓上會出現一些遠高於電源電壓的電壓尖峰。以BOOST電路為例,如圖2.0,當MOS管關閉那刻DS之間將承受較高的電壓衝擊(Vout+振鈴)。

圖2.0,BOOST電路中MOSFET在關閉時承受較高的Vds衝擊

除了續流作用,還有一些MOSFET的體二極體還具有電壓鉗位作用,類似於「穩壓管」避免DS過壓而損壞,在一些應用場景比較緊湊的場合不妨考慮選擇此類MOSFET,如圖2.1的MOSFET的體二極體具備鉗位效果,它能將振鈴的電壓鉗位。

圖2.1,具有鉗位作用的體二極體

真正需要額外防護的是對GS極的防護,避免GS過壓。在實際應用時,需要確定是否GS過壓的可能性或者風險,然後正確做好防護,一般的方式是在GS之間加一個穩壓管。如圖2.2,是典型的高位MOSFET開關電路,一般MOSFET的GS間耐壓是20V,最大的輸入電壓是24V,所以MOSFET的GS有過壓損壞的風險,因此此處使用了一顆18V穩壓管對Vgs進行了鉗位防護。

圖2.2,High-Side Switch中GS極的防護

(四)、MOSFET的開關電路的奇怪現象——漏電

如圖2.2的MOSFET開關電路,有時候會出現奇怪的現象,即使開關未曾使能(SW保持低電平),理論上MOSFET是處於關閉狀態的,但是某些場景下,此時Vout仍然是有輸出電壓的(漏電)。

導致漏電現象的原因在於,前面已經重點介紹過的MOSFET的極間寄生電容的影響,輸入Vin通過MOSFET的極間寄生電容「透傳」到了輸出Vout上面。所以基本對策是盡量選擇極間寄生電容小的MOSFET,如果由於成本等原因的局限,無法替換MOSFET的話,可以嘗試在輸出端放一顆nF級別的小陶瓷電容,有時可以解決這個漏電的問題;有時需要在輸出端放置一個假負載(和輸出電容並聯一個電阻作為假負載)。

綜合以上兩種對策,得到圖2.3改良之後的高位MOSFET開關,從Vout有輸出的瞬態的角度看,C1相當於「直通」,R4充當了「假負載」的作用;在電路達到穩態之後,C1又識趣地「斷開」了,R4不會對輸出產生影響。專業點說,C1和R4組成了一條「高頻」通道。

同時R4還起到了抑制三極體的「溫漂」的作用。原理如下:

溫度上升 --> 三極體的Vbe壓降減小 --> Ir2=(Vsw-Vbe-Vr4)/R1上升,同時Ir2=(Vbe+Vr4)/R2下降

-->Ibe=(Ir1-Ir2)上升 -->Ic上升 --> Vr4=Ic*R4上升--> (Vbe+Vr4)回歸穩定,Vr4的上升彌補了Vbe的下降。同理,環境溫度下降時也可作同樣的分析。

圖2.3,改良之後的High-Side Switch

(五)、BUCK電路中,MOSFET的上下管直通的問題

雖然晶元在設計時已經在上下管交替導通的間隙內插入了「死區時間(dead time)」,但是在BUCK電路中,上下MOS管直通仍然是常見的故障,直通的後果很嚴重,輕者過熱,重者「炸管」。

圖2.4,由於上下管直通導致的MOS「炸管」

引起上下管直通的原因仍然是因為MOS管的極間寄生電容的緣故。上管在打開時,通過下管的Cgd以及Cgs拉升了下管的GATE電壓(如圖2.4的「鼓包」),如果這個「鼓包」達到了下管開通的門限電壓則直通了。

我們知道MOS的導通深度是和GATE的電壓大小有關的,GATE電壓雖然已到達門限值,但是電壓不夠高的話,MOS的Rds(on)很高,此刻的直通不會「炸管」,但是會表現為溫升。此種情形很容易被忽視,所以對電路進行極限測試很重要,在極限測試時是比較容易發現MOS的異常溫升的。

圖2.5,引起上下管直通的原理分析

圖2.5是針對同步BUCK電路中,上下管直通的原理分析。導致直通的原因是極間寄生電容Cgd以及Cgs,所以在高電壓以及快速開關時(high dv/dt)比較容易發生直通現象。如果下管的寄生電容Ciss(Cgd+Cgs)以及Crss(Cgd)較大時,也會增加直通發生的概率。

因此,選用大比值的Cgs/Cgd(或者Qgs/Qgd)可以減小問題的概率,適當減弱驅動(dV/dt)及減小下管GATE的泄流阻抗都會達到改善直通的效果。

有時候,直通現象多少是存在的,表現為溫升,刻意地去改善直通會降低開關效率,後果同樣也是增加溫升。因此,正確的做法是在極限情形下評估,如果各項指標符合預期則無需在意上下管之間可能存在的微弱「直通」。

(六)、BUCK電路中實際的MOSFET開關波形解析

1、 實際的MOSFET波形 – 上管開通

上管快速開啟時,SW會通過寄生電容Cgd耦合到下管的Vgs之上,抬升了Vgs電壓,此為米勒效應"Miller Effect"。

上管導通時的米勒效應可能會誤觸發下管,導致上下管直通的現象發生。選擇High Cgs/Cgd ratio的MOSFET有利於改善米勒效應。

圖2.6,MOSFET開通的波形

2、真實的MOSFET開關波形 – 上管關閉

上管快速關閉時,SW會通過寄生電容Cgd耦合到下管的Vgs之上,拉低Vgs電壓至負壓(電容的電荷未變。上管打開時,Cgd被充電,現在極性翻轉,所以下管Vgs會出現負壓,類似Charge-pump的原理),此為米勒效應"Miller Effect"。

上管關閉時的米勒效應所導致的後果是,使得下管的Vgs變為負壓,所以不會發生不良後果。

圖2.7,MOSFET的關閉過程

三、MOSFET的核心知識點

上文的介紹,首先由三極體切入,目的是為了初學者不懼怕;接著,基於實際案例及實測的波形重點介紹了MOSFET的寄生參數特別是寄生電容對MOSFET的嚴重影響,有時甚至會導致災難性性的後果。

MOSFET的實際應用多種多樣,可能發生的故障及現象也必定千奇百怪,案例只能幫你有個直觀的認識,別人的故事不可原樣照搬至自己這裡。

所以,文末準備幫大家在理論上梳理並剖析一下MOSFET的開通和關閉的過程。理論的東西總是枯燥乏味的,結合前文的案例來看,相信又沒那麼的枯燥。

MOSFET的實際模型:

? Input capacitance: Ciss = Cgd + Cgs

? Output capacitance: Coss = Cgd = Cds

? Reverse transfer capacitance: Crss = Cgd

圖2.8,MOSFET的模型

圖2.8是MOSFET的實際模型,它的內核當然是一顆MOSFET,然後在這顆MOSFET上寄生了電容,其中平時最關注的是Cgd和Cgs,它們的影響,前面已有案例介紹。在評估和對比/替換MOSFET時,別忘了關注這兩個參數。

然後MOSFET是有內阻的,Rds(on),實際上也算是寄生參數吧,希望它越小越好,它會導致發熱。注意,Rds(on)不是一個恆定值,它與Vgs的大小有關,Vgs越高,Rds(on)越小,所以在驅動MOSFET時需要過驅動,也就是MOSFET已經被導通之後,繼續拉升Vgs達到降低Rds(on)的目的。

接著,晶元到管腳是通過金線連接的,它會表現為寄生電感。寄生電感實際上更加令人討厭,因為它會產生尖峰電壓(V=Ldi/dt),尖峰電壓可能導致器件損壞,邏輯電路誤觸發。

MOSFET的驅動:

圖2.9,MOSFET的驅動模型

1、預充電階段: Pre-threshold Charge Period (t0-t1)

Vgs電壓小於MOSFET開啟的閾值電壓Vgs(th),MOSFET仍然處於截止階段。驅動極對寄生電容Cgd和Cgs進行預充電。

圖3.0,MOSFET的預充電階段

2、Ids電流上升階段: IDS Current Rising Period (t1-t2)

Vgs超過MOSFET開通的閾值電壓Vgs_th,所以MOSFET開始進入導通階段,隨著Vgs的繼續上升,電流Id也隨之增加。

圖3.1,Ids電流上升階段

3、Vds電壓下降階段:VDS Voltage Falling Period (t2-t3)

Vgs電壓到達米勒平台(Miller Platform),Vgs維持不變,Ids維持不變,Vds電壓開始下降。

圖3.2,Vds電壓下降階段

4: 過驅動階段:Over-Drive Period (t3-t4)

MOSFET完全導通,Vgs在米勒平台之後繼續上升,此過程為過驅動,此行目的是為了降低Rds(on)。

圖3.3,過驅動階段

米勒平台及Qgd是計算開關損耗的重要參數。開關損耗產生的原因是電流和電壓的交疊,MOSFET比較特殊之處是:首先Vds維持不變,然後等待Ids持續上升;待Ids到頂了,Vds才開始下降,所以兩者重疊的面積很大(Ploss=Vds*Ids)。

圖3.4,MOSFET的開關損耗的形成

MOSFET的關閉過程與以上導通過程相反,可作類似的推導,不作贅述。

最後總結一下:MOSFET在導通和關閉過程中的損耗稱作開關損耗;完全導通之後,損耗主要是由Rds(on)引起,稱作導通損耗;當管子關閉時,通過體二極體續流,同樣會產生損耗,如圖3.5。

圖3.5,MOSFET的損耗的分布


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