CoolSiC MOSFET? 好在哪兒, 你真的了解嗎?

CoolSiC MOSFET? 好在哪兒, 你真的了解嗎?

通過SiC系列的文章《SiC材料到底「cool」在哪裡?》,我們了解到了SiC材料本身的卓越性能。那麼,使用SiC材料做成的器件又會有什麼過人之處呢?接下來就讓我們一探究竟吧。

  • 相比Si IGBT,CoolSiC? 好在哪兒?

目前IGBT和MOSFET 都是廣泛使用的功率器件,特別是在高壓電力電子領域IGBT 應用更為普遍。那麼,IGBT 和MOSFET 究竟有哪些區別呢?其實它們的結構非常相似,正面採用多晶硅與漂移區形成金屬-氧化物-半導體結構,作為門極;漂移區普遍採用N型摻雜的半導體來承受阻斷電壓;門極施加正壓(高於器件閾值電壓)時,器件導通,通態電流在漂移區縱向流動。區別主要在於IGBT 在漂移區背面有P+注入作為集電極,而MOSFET 直接在N漂移區背面澱積金屬作為漏極。IGBT 背面的P+決定了它是雙極型器件,在器件導通時,發射極注入電子,而集電極注入空穴,兩種載流子均參與導電。在器件關斷時,多餘的空穴只能在體內進行複合,從而造成拖尾電流,增加了關斷損耗,限制了開關頻率的提高。而且在高溫下,拖尾電流更加明顯,造成更大的關斷損耗。目前IGBT 能實現系統的開關頻率均在100kHz 以下。而MOSFET 只依賴電子進行導電,關斷時電子可以迅速被抽走,沒有拖尾電流,因而關斷損耗更小,且基本不隨溫度變化。

圖1:IGBT 與MOSFET 剖面結構圖

下面我們通過實際測試數據來直觀感受一下SiC 的優勢。

1)開關損耗

圖2是1200V HighSpeed3 IGBT(IGW40N120H3) 與CoolSiC? MOSFET (IMW120R045M1) 在同一平台下進行開關損耗的對比測試結果。母線電壓800V, 驅動電阻RG=2.2Ω,驅動電壓為15V/-5V。使用1200V/20A G5 肖特基二極體 IDH20G120C5作為續流二極體。在開通階段,40A 的電流情況下,CoolSiC? MOSFET 開通損耗比IGBT 低約50%,且幾乎不隨結溫變化。這一優勢在關斷階段會更加明顯,在25℃結溫下,CoolSiC? MOSFET 關斷損耗大約是IGBT 的20%,在175℃的結溫下,CoolSiC? MOSFET 關斷損耗僅有IGBT 的10%(關斷40A電流)。且開關損耗溫度係數很小。

圖2:IGBT 與 CoolSiC? 開關損耗對比

2)導通損耗

圖3是1200V HighSpeed3 IGBT (IGW40N120H3) 與CoolSiC? MOSFET (IMW120R045M1) 的輸出特性對比。常溫下,兩個器件在40A 電流下的導通壓降相同。當小於40A 時,CoolSiC? MOSFET 顯示出近乎電阻性的特性,而IGBT 則在輸出特性上有一個拐點,一般在1V~2V, 拐點之後電流隨電壓線性增長。當負載電流為15A 時,在常溫下,CoolSiC? 的正向壓降只有IGBT 的一半,在175℃結溫下,CoolSiC? MOSFET 的正向壓降約是IGBT 的80%。在實際器件設計中,CoolSiC? MOSFET 比IGBT 具有更低的導通損耗

圖3:CoolSiC? 和IGBT 導通損耗對比

3)體二極體續流特性

CoolSiC? MOSFET 的本徵二極體有著和SiC肖特基二極體類似的快恢復特性。25℃時,它的Qrr和相同電流等級的G5 SiC 二極體近乎相等。然而,反向恢復時間及反向恢複電荷都會隨結溫的增加而增加。從圖4(a)中我們可以看出,當結溫為175℃時,CoolSiC? MOSFET 的Qrr略高於G5 肖特基二極體。圖4(b)比較了650V 41mΩ Si MOSFET 本徵二極體和CoolSiC? MOSFET 本徵二極體的性能。在常溫及高溫下,1200V CoolSiC? MOSFET 體二極體僅有Si MOSFET 體二極體Qrr的10%。

圖4 CoolSiC? MOSFET 體二極體動態特性

  • 相比其它MOSFET,CoolSiC? 好在哪兒?

我們已經了解到,SiC 材料雖然在擊穿場強、熱導率、飽和電子速率等方面相比於Si材料有著絕對的優勢,但是它在形成MOS(金屬-氧化物-半導體)結構的時候,SiC-SiO2 界面電荷密度要遠大於Si-SiO2,這樣造成的後果就是SiC表面電子遷移率要遠低於體遷移率,從而使溝道電阻遠大於體電阻,成為器件通態比電阻大小的主要成分。然而,表面電子遷移率在不同的晶面上有所區別。目前常見的SiC MOSFET 都是平面柵結構,Si-面上形成導電溝道,缺陷較多,電子遷移率低。英飛凌CoolSiC? MOSFET 採用Trench 溝槽柵結構,導電溝道從水平的晶面轉移到了豎直的晶面,大大提高了表面電子遷移率,使器件的驅動更加容易,壽命更長。

SiC MOSFET 在阻斷狀態下承受很高的電場強度,對於Trench 器件來說,電場會在溝槽的轉角處集中,這裡是MOSFET 耐壓設計的一個薄弱點。英飛凌採用了嶄新的非對稱溝槽結構,如下圖所示。在這個結構中,溝槽左側有N+源極及P基區,可以形成正常的MOS導電溝道;溝槽的另外一側大部分都被高摻雜的深P阱包圍,在阻斷狀態下,這個P阱可以減弱施加在溝槽柵氧上的電場強度;在反向續流狀態時,可以充當快恢復二極體使用,性能優於常規MOSFET體二極體。

圖5:CoolSiC? MOSFET 剖面示意圖

相比於其它SiC MOSFET, CoolSiC? MOSFET 有以下獨特的優勢:

a)為了與方便替換現在的Si IGBT,CoolSiC? MOSFET 推薦驅動電壓為15V,與現在Si 基IGBT 驅動需求兼容。CoolSiC? MOSFET 典型閾值電壓4.5V, 高於市面常見的2~3V的閾值電壓。比較高的閾值電壓可以避免門極電壓波動引起的誤觸發。

b)CoolSiC? MOSFET 有優化的米勒電容Cgd 與柵源電容Cgs 比值,在抑制米勒寄生導通的同時,兼顧高開關頻率。

c)大面積的深P 阱可以用作快恢復二極體,具有極低的Qrr 與良好的魯棒性。

d)CoolSiC? MOSFET提供晶元,單管,模塊多種產品。單管有TO-247 3pin 和 TO-247 4pin,開爾文接法可以防止米勒寄生導通,並減少開關損耗。模塊有EASY1B,EASY 2B, 62mm 等等, 可以覆蓋多種功率等級應用。模塊採用低寄生電感設計,為並聯設計優化,使PCB 布線更容易。

圖6:CoolSiC? 先期量產產品目錄

綜上所述,CoolSiC? MOSFET是一場值得信賴的技術革命,憑藉它的獨特結構和精心設計,它將帶給用戶一流的系統效率,更高的功率密度,更低的系統成本。英飛凌一直走在SiC技術的最前沿,與用戶攜手前行,面對碳化硅應用市場的挑戰,從容應對,無懼未來。

了解更多英飛凌新技術,新產品及其解決方案,邀您參加6月26-28日,在上海世博展覽館舉辦的 PCIM研討會和展會。

相關文章鏈接:

英飛凌:英飛凌碳化硅技術大解析,到底「Cool」在哪裡??

zhuanlan.zhihu.com圖標英飛凌:SiC材料到底有多Cool??

zhuanlan.zhihu.com圖標英飛凌:2018英飛凌碳化硅發展論壇視頻分享?

zhuanlan.zhihu.com圖標
推薦閱讀:

華為淡出美國轉戰加拿大,和多家運營商簽約 | 半導體那些事兒
智能手機衰落下的半導體廠商百態 | 半導體行業觀察
值得一讀的科技新聞3.3
中芯購買EUV說明在先進位程研發上取得了突破
3nm以後的晶體管選擇 | 半導體行業觀察

TAG:碳化硅 | 晶體管 | 半導體 |