證明Weierstrass逼近定理的三種途徑(一)
04-23
這篇文章介紹一下關於Weierstrass逼近定理的三種不同的證明方法。三種方法分別來自三種不同的方向,分別是:調和分析,實分析&概率論,拓撲。其中拓撲的方法是最好的可以把該定理推廣到一般情形即Stone-Weierstrass定理。調和分析和概率論的方法則更偏技術性,構造性。
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Weierstrass:
任何定義在上的實連續函數,任何都存在一個多項式使得
即C[a,b]上的任何函數都已被多項式函數一致逼近,或者從拓撲的角度來看就是,P[a,b]是C[a,b]的稠密子空間,進一步可以說明C[a,b]是可分的(即P[a,b]可數)。這裡P[a,b]代表定義在[a,b]上的多項式函數空間。
調和分析的方法(參考Stein 1 Chapter 5)
Def 1:
具有以下三個性質的含參數函數族叫做good kernel
- 對任意, 當
lemma 1:
是good kernel
lemma 2:
是定義上具有緊支集M的連續函數,則當時,一致趨近於
其中是good kernel
proof:
其中的緊支集被包含在區間[-R,R]中,又由good kernel 積分有界的性質可知不等式右邊第一項為0.右邊第二項在緊支集M上面函數一致連續,因此可以任意小。
Q.E.D
第一個證明:
令[-M,M]是任意一個包含區間[a,b]的區間,並定義連續函數.g(x)以[-M,M]為支集,並且當限制在[a,b]上時是等於的。
- 令,由 lemma 2 可知,任意,存在 使得
- 用表示Taylor級數的前N項,即,則任意有N使得
3.
綜合以上三段由三角不等式可知
由於是多項式,於是卷積也是多項式。
Q.E.D
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