Deep Metric Learning via Lifted Structured Feature Embedding(CVPR,2016)

這是一篇CVPR2016年的論文,文章針對傳統的pairwise(成對樣本),triplet(三元組)進行改變,通過增加(特定)邊來加大對於每次batch數據的使用。本文的核心就是下圖,如果我們假設邊的個數就是我們對於batch數據的使用情況的話,我們發現,本文提出的方法毫無疑問極大的利用了batch信息,而這也是本文的motivation,較好的使用每次batch的信息。

看完本文希望大家能了解:

①.Contrastive,Triplet的知識(最好明白為什麼會由Contrastive到Triplet的轉變),以及它們在現有的batch時存在的一些不足;

②.本文在採樣時的一些細節,(有預處理);本文的核心思想精髓;

③.知道本文的損失函數形式以及物理含義即可。

文章鏈接: arxiv.org/abs/1511.0645

做的ppt鏈接: pan.baidu.com/s/1dELSGq


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