自控貓|[問答]連載43-檢驗周期對SIF迴路計算的影響？

周期性的離線檢測測試是SIS投入操作運行後重要的維護活動，是保持持續地滿足安全完整性要求的保障。

一、檢驗周期的確定

檢驗測試的時間間隔，參照製造廠的推薦和以往的工廠實踐經驗並結合硬體的老化程度和軟體的可靠性進行確定。

在通常情況下，絕大多數SIS設備的檢驗測試，安排在裝置的停車大修期間進行，也就是說，設計要求的檢驗測試時間間隔大於、等於裝置的停車檢修時間間隔。如果需要測試間隔周期短於裝置的停車檢修時間間隔，就要設計該SIS設備的旁路等措施，以便在不影響裝置運行和安全操作的前提下，從在線狀態脫開。

二、檢驗周期的內容及作用

檢測測試指的是，將SIS被測設備脫離開工藝流程，對其進行人工檢測。相當於SIS系統的在線診斷測試，某些故障或失效只能通過離線的人工測試才能發現，例如變送器的膜盒損壞、引壓管的堵塞、測量精度、閥門的腐蝕內漏、閥芯的卡死等。

檢驗後起的理想效果，應使得SIS設備的故障或失效100%的發現並消除，在其有效生命周期內等同於全新的。

三、檢驗周期對迴路計算的影響

檢驗周期通常由1個月、3個月、6個月、1年、2年、10年等，也可根據實際需要進行確定。

我們以1oo1結構為例，其平均失效概率公式為：

其中T1為檢測周期。

T1=6個月，平均恢復時間為8h的平均失效概率如下：

T1=1年，平均恢復時間為8h的平均失效概率如下：

T1=2年，平均恢復時間為8h的平均失效概率如下：

由此可見，隨著檢驗周期的延長，儀錶的平均失效概率也在變大。

一般來說，在計算迴路平均失效概率的時候，檢驗周期定在1年比較合適，也符合我們國內裝置及檢修的實際情況。

參考文獻：

安全儀錶系統在過程工業中的應用 張建國

本文作者：儀錶小豬，首發於自控貓微信公眾號。