透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？

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在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：

1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）：判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围最小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差的限制。现在前沿的技术是纳米电子微区衍射(Nanobeam electron diffraction)，通过用~2 nm的汇聚电子束得到样品在更小尺度下的晶体结构等。

2. 高分辨(high resolution electron microscopy): 通过高分辨的原子像，可以获得晶体常数，晶格结构，晶体缺陷，包括位错，层错等。

3. 扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microsopy): 利用聚焦电子书探针(0.1nm)和高角环形暗场探测器，来得Z-contrast。照片中的亮度和原子序数正相关，从而排除了衍射衬度的影响。因解读难度比HREM简单，目前是比较流行的技术。

4. 会聚束电子衍射(convergent electron beam diffraction): 主要用于判断单晶样品的晶体结构，对称性，样品厚度，应力等。

5. 电子能量损失谱（Electron energy loss spectroscopy): 可以提供元素信息，在探测轻元素方面有优势，同时可以表征原子键。

5. EDS (energy dispersive spectroscopy): 同样是提供元素信息，但主要用于探测重元素。

通常而言，只用TEM来判断物质结构是不够的，一般是通过XRD先知道宏观上物体的晶体结构后，再利用TEM确定微观的信息。

一般流程大致如下：

1，通过一般手段确定大致元素组成，比如铁和碳，多数情况下这一步可以跳过。如果连潜在元素都不知道就上tem那纯粹是智障行为。

2，有条件可以用xrd确定大致物相组成，xrd是确定物相的，记住。

3，tem找感兴趣区域，用能谱和电子衍射确定元素组成和结构信息，有这两者基本上就能确认物相组成。

4，不能进行电子衍射的用高分辨像加傅里叶变换来判断

5，需要说明，tem侧重微区结构分析，不是所有任务一个tem就能完成的，多种手段并用才是正道

首先，从高分辨透射照片可以直接测到晶面间距，也可以进行傅立叶变换后得到更多晶面信息；如果可以做选区电子衍射，可以得到特定的衍射花纹；如果附带能谱仪，可以得到样品的元素组成。